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SV-C3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)

簡要描述：

SV-C3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)包括1.輪廓測量測量范圍：X-軸：100㎜，Z-軸：60㎜，立柱移動量：300mm，指示精度：X-軸：±（0.8+0.01L）μm，Z-軸：±（1.6+|2H|/100）μm，2.表面粗糙度測量：Z-軸：8μm, 80μm,800μm，X-軸：100mm，咨詢！

更新時間：2023-05-19

免費咨詢：0574-86861636

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詳細介紹

SV-C3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)

寧波旗辰儀器專業(yè)銷售日本三豐粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)，型號：SV-C3200S4，包括輪廓度測量和表面粗糙度測量，具體參數(shù)詳見下文。旗辰公司是日本三豐授權(quán)供應(yīng)商，價格公道，產(chǎn)品原裝*，歡迎廣大客戶！

1.SV-C3200S4粗糙度輪廓度測量系統(tǒng)的系統(tǒng)：

檢出器測力：0.75 mN

型號	主機規(guī)格
型號	X1 軸測量范圍	垂直移動	花崗巖基座尺寸
SV-C3200S4	100 mm	300 mm	600×450 mm

1-1.系統(tǒng)圖

1-2.數(shù)據(jù)處理部

分析軟件

FORMTRACEPAK V5.3/E SVC/CS

2.的主機規(guī)格：

2-1.測量表面粗糙度時

適用標準：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA

評價輪廓：基本曲線／粗糙度曲線／包絡(luò)殘余線／過濾波形曲線／帶通波曲線／波紋度曲線／滾環(huán)波紋曲線／

粗糙度motif／波紋度motif／DIN4776

測量范圍	X1 軸	100 mm
	檢出器	800 μm、80 μm、8 μm
類型	X1 軸	反射型線性編碼器
	檢出器	差動電感式
分辨力	X1 軸	0.05 μm
	檢出器	0.01μm（800 μm） 0.001 μm（80 μm） 0.0001 μm（8 μm）
直線度		（0.05＋L/1000）μm L為驅(qū)動長度（mm）（以X1軸為水平方向上）
測針上／下運作		弧形移動
測針方向		向下
測力		0.75 mN
測針針尖形狀		60°、R2 μm

2-2.的測量輪廓形狀時：

測量范圍	X1 軸	100 mm
	Z1軸（檢出器）	60 mm
類型	X1 軸	反射型線性編碼器
	Z1軸	圓弧光柵尺
分辨力	X1 軸	0.05 μm
	Z1軸	0.04 μm
直線度		0.8μm/100 mm　（以X1軸為水平方向上）
指示精度	X1 軸	±（0.8＋0.01L）μm L為驅(qū)動長度（mm）
（20℃）	Z1軸	±（1.6＋｜2H｜/100）μm H：基于水平位置的測量高度（mm）
測針上／下運作		弧形移動
測量方向		向前/向后
測針方向		向上/ 向下
測力		30 mN
跟蹤角度	向上	77°（依表面粗糙度而定）
	向下	83°（依表面粗糙度而定） *使用配置的標準測頭
測針針尖	*半徑	25 μm
	材料	硬質(zhì)合金

2-3.　主機規(guī)格

垂直移動	Z2 軸(立柱)	300 mm
長度基準	Z2 軸	ABSOLUTE 線性編碼器
分辨力	Z2 軸	1 μm
X1 軸傾角范圍		±45°
驅(qū)動速度	X1 軸	0～80 mm/s外加手動
	Z2 軸	0～30 mm/s外加手動
測量速度		0.02～5 mm/s
基座尺寸		600×450 mm
基座材料		花崗巖
尺寸	主機	996×575×966 mm
	控制器	221×344×490 mm
	遙控箱	248×102×62.2 mm
重量	主機	140 kg
	控制器	14 kg
	遙控箱	0.9 kg
使用溫度范圍		15～25 ℃
使用濕度范圍		20～80 %RT　　但是不能結(jié)露
保存溫度范圍		-10～50 ℃
保存濕度范圍		5～90 %RT　　但是不能結(jié)露
電源		100～120V、200～240 V±10%、AC50/60 Hz
消耗功率		400 W